atomic number contrast:原子序数对比(Z 对比)。指利用不同元素的原子序数(Z)差异所产生的信号强弱差别,用来在成像或分析中区分材料中的不同元素或区域(常见于材料科学与电子显微镜成像,如 STEM 的 HAADF “Z-contrast” 成像)。在更宽泛语境中,也可指任何“按原子序数差异进行对比/区分”的方法或现象。
Pronunciation / 发音(IPA)
/əˈtɑːmɪk ˈnʌmbər ˈkɒntræst/
Examples / 例句
Atomic number contrast helps us tell heavier elements from lighter ones in the image.
原子序数对比能帮助我们在图像中区分较重元素和较轻元素。
In HAADF-STEM, atomic number contrast can reveal compositional variations across an interface with high spatial resolution.
在 HAADF-STEM 中,原子序数对比可以以很高的空间分辨率显示界面处的成分变化。
Scanning Transmission Electron Microscopy and Spectroscopy: Applications in Materials Science(Pennycook & Nellist 编):讨论 Z-contrast/atomic number contrast 在 STEM 成像中的原理与应用。
Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science(David B. Williams & C. Barry Carter):介绍电子显微成像对比机制,包含与原子序数相关的对比概念。
Springer Handbook of Microscopy:在电子显微章节中常以 Z-contrast(原子序数对比)讨论材料成分成像。